Home Shop Skinanalyzer apparatuur Skin analyser Skinvieuw
SKINVIEW is in staat om hydratatie, elasticiteit, talg, poriegrootte, hyperpigmentatie, acne, rimpeldiepte en zelfs gevoeligheid te meten.
Ontwikkeld door dermatologen en software engineers om een professionele en volledige diagnose van de huid in minder dan 10 minuten aan te bieden.
SKINVIEW is in staat om hydratatie, elasticiteit, talg, poriegrootte, hyperpigmentatie, acne, rimpeldiepte en zelfs gevoeligheid te meten.
Ontwikkeld door dermatologen en software engineers om een professionele en volledige diagnose van de huid in minder dan 10 minuten aan te bieden. Deze innovatieve technologie maakt het mogelijk om met de microscoop en processor de huid te bekijken, tot wel 30 keer dichterbij dan het oog kan zien. Met deze nieuwste technologie is het mogelijk om een diepe huiddiagnose te voltooien met foto’s en afbeeldingen om te vergelijken met andere huiden in dezelfde leeftijdsgroepen. SKINVIEW laat u de voortgang van de huid zien.
Daarnaast beveelt SKINVIEW de beste producten aan op basis van de diagnose. Resultaten kunnen worden verzonden via e-mail naar elke klant, met daarbij productadvies voor thuis.
U bent van harte welkom in onze showroom, demonstratie ruimtes en professionele shop te Geldermalsen.
Neem geheel vrijblijvend CONTACT met ons op voor meer informatie of uw gratis proefbehandeling.
U kunt ons telefonisch bereiken:  in Nederland  0345-588100 •  in België 016-632151 • via ons e-mailadres: info@nemcosmetics.nl
Wij zijn geopend, maandag t/m donderdag van 09:00 tot 17:00, vrijdag van 09:00 tot 16:00
NEM COSMETICS B.V. • Gerdina’s Hof 25 • 4191 MX Geldermalsen • Nederland
Wij zijn exclusief distributeur voor de professionele schoonheidsbranche. Gespecialiseerd in professionele cosmetica merken, top kwaliteit apparatuur, harsontharing, salonproducten en saloninrichting.
Heb je al een account? Log-in om van jouw member voordelen te profiteren.
Als beauty professional bestel je voordelig via onze webshop en ben je van harte welkom in onze showroom.